Сканирующий электронный микроскоп SM-50

СЭМ SM-50 имеет высокое разрешение (до 0,8 нм), которое сочетается с высоким контрастом изображения благодаря автоэмиссионному катоду типа Шоттки и использованию передовых сверхчувствительных детекторов. Высоковольтная туннельная технология (SuperTunnel), конструкция объектива с низким уровнем аберраций и отсутствием магнитной утечки идеально подходят для получения изображений с высоким разрешением при низком ускоряющем напряжении, в том числе для анализа магнитных образцов. Оптическая навигация, автоматические функции, хорошо продуманная эргономика, оптимизированные процессы эксплуатации — независимо от того, есть у вас опыт работы или нет, вы можете быстро приступить к работе и выполнять съемки с максимально высоким разрешением.

Основные преимущества:

• изображения с высоким разрешением (0,8 нм) при низком ускоряющем напряжении;
• электромагнитный комбинированный объектив уменьшает аберрации, значительно улучшает разрешение при низком напряжении и позволяет наблюдать магнитные образцы;
• технология высоковольтного туннеля (SuperTunnel), в котором электроны могут поддерживать высокую энергию, уменьшая эффект пространственного заряда, что гарантирует высокое разрешение при низком напряжении;
• большая рабочая камера;
• навигационная камера уже в базовой комплектации;
• регулируемая диафрагма с магнитным отклонением с шестью отверстиями, автоматическое переключение отверстий диафрагмы, отсутствие необходимости в механической регулировке позволяют быстро переключать ток пучка между аналитическим режимом и режимом высокого разрешения;
• системы автоматизации для качественной визуализации и настройки систем микроскопа.