Сканирующий электронный микроскоп SM-40X

SM-40X – это сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения, оснащенный термополевой пушкой типа Шоттки с высокой яркостью и длительным сроком службы, созданный в первую очередь для исследования наноматериалов, нанодисперсных порошков, тонкопленочных структур, а также легких элементов. Отличительной особенностью данной модели является наличие внутрилинзового детектора,  улучшающего разрешение прибора на низких ускоряющих напряжениях, а высоковольтная туннельная технология (SuperTunnel), конструкция объектива с низкой аберрацией и отсутствие магнитной объективной линзы позволяют получать изображения высокого разрешения на низких ускоряющих напряжениях, в том числе проводить анализ магнитных образцов. Все это делает SM-40Х идеальным решением для исследований в области нанотехнологий и создания новых материалов. 

Основные преимущества:

• оснащен электронной пушкой с термополевой эмиссией типа Шоттки, обладающей высокой яркостью и длительным сроком службы;
• разрешение – менее 1,5 нм при 1,0 кВ;
• уникальная конструкция колонны с внутрилинзовым детектором значительно улучшает разрешение и качество изображения при низком ускоряющем напряжении;
• электромагнитная композитная линза и технология высоковольтного туннеля (SuperTunnel): энергия электронов в туннеле снижается тормозящим полем, при этом ускоряющее напряжение остается достаточно высоким;
• эвцентрический высокоточный предметный столик;
• шлюз для быстрой смены образцов шириной до 208 мм.