Конфокальный микроскоп LEXT OLS 4100

Метрологическая конфокальная лазерная система совмещает в себе все преимущества оптических, а также возможности лазерных конфокальных технологий, при этом оптические характеристики данного прибора сравнимы с характеристиками электронных микроскопов. Преимуществом перед электронными микроскопами является то, что образцы для исследования не требуют подготовки, а рабочее расстояние и большие размеры столиков (до 300х300мм) позволяет устанавливать образцы больших размеров, чем в электронных микроскопах. Прибор предназначен для изучения топографии поверхности в таких областях, как криминалистика, экспертная деятельность, создание и изучение новых материалов, машиностроение и т.д. Прибор оснащен современным интуитивно-понятным программным обеспечением, контролирующим все моторизованные функции микроскопа, а также позволяющим проводить различные геометрические измерения, проводить анализ фазового состава, проводить измерение толщин пленок, параметров повторяющихся структур и т.д. Также прибор имеет возможность бесконтактным методом измерять шероховатость по широкому ряду стандартов, что позволяет использовать данный прибор вместо профилометра.

Отличительные особенности:

• Общий диапазон увеличений от 50х до 17280х.
• Самое высокое разрешение на сегодняшний день среди подобных приборов (по горизонтали до 120 нм, по вертикали до 10 нм!)
• Уникальная сканирующая система с технологией «двойная пиноль» позволяет измерять образцы с наклоном до 85°.
• Имеет 4 режима лазерного сканирования от самого быстрого до самого точного.
• Моторизованный ультразвуковой безлюфтовый столик100х100мм (300х300мм, позволяющий установить крупный образец, высотой до 100мм).
• Автоматическая обработка и анализ изображения, измерение высот, дистанций, площадей, объемов, анализа частиц линейной и плоскостной шероховатости, определение края и др.
• Неразрушающие 2D и 3D измерения объекта в режиме реального времени.