Толщиномеры и анализаторы покрытий FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ
Толщиномеры и анализаторы покрытий FISCHERSCOPE X-RAY серии XDV-μ предназначены для микроанализа материалов с высокой точностью. В зависимости от рентгеновской оптики могут быть проанализированы структуры размером 100 мкм или менее. Подходят только для плоских или почти плоских образцов.
Цена по-запросу
Все устройства серии оборудованы поликапиллярной оптикой, фокусирующей пучок рентгеновских лучей. При этом создаётся измерительное пятно диаметром от 10 до 60 мкм. Сфокусированное излучение высокой мощности позволяет сократить длительность измерений. Приборы соответствуют стандартам DIN ISO 3497 и ASTM B 568.
10-60 мкм
Диапазон размеров измерительного пятна
