Сканирующий электронный микроскоп SM-60

ID:
82387
Артикул:
Цена по-запросу
  • Описание
  • Характеристики

SM-60 – высокоскоростной полностью автоматизированный термополевой сканирующий электронный микроскоп, предназначенный для высокоскоростного получения изображений с наноразмерным разрешением. 

В приборе использованы следующие технологии:

– электронная пушка с большим током и высокой яркостью; 

– высокоскоростная система отклонения электронного луча; 

– система замедления луча на образце; 

– динамическая оптическая ось и иммерсионный комбинированный, электромагнитный и электростатический, объектив.

Автоматизированный рабочий процесс предназначен для решения задач, требующих эффективного и интеллектуального получения изображений с высоким разрешением на больших площадях. Скорость получения таких изображений более чем в пять раз выше, чем у обычного сканирующего электронного микроскопа с термополевой эмиссией.

Основные преимущества:

  • полностью автоматизированная система для съемки изображений высокого разрешения на большой области интереса;
  • высокое разрешение (до 1,3 нм) при низких ускоряющих напряжениях;
  • скорость сканирования: до 2 ? 100 Мпикс/сек;
  • поле зрения: 64 ? 64 мкм при разрешении 4 нм;
  • технология двойного торможения пучка для обеспечения минимальных искажений при работе с низкоэнергетичными электронами;
  • специализированное ПО для работы с образцами в области медицины и микроэлектроники.
Тип микроскопа Сканирующий
Область применения Материаловедение, Междисциплинарные научные центры, Науки о живом
Направление деятельности 2D-анализ, 3D-анализ, 3D-анализ блоков (SBFI), Автоматизированный анализ частиц и включений, Биология, Геология, Медицина, Междисциплинарный мультимодальный и мультимасштабный анализ
Объекты интереса 11 нм – 100 нм
Тип катода Термополевой катод типа Шоттки
Максимальное разрешение, нм 1,5
Диапазон ускоряющего напряжения, В 100 - 30 000
Максимальный ток зонда, нА 20
Диапазон увеличений, крат 12 - 2 000 000
Пятиосевой моторизованный Нет
Пятиосевой моторизованный эвцентрический Нет
Трёхосевой моторизованный Нет
Максимальный вес образца, г 500
Максимальный диаметр образца, мм 100
Ход по осям X и Y, мм 110 ? 110
Воспроизводимость по осям X и Y, мкм
Ход по оси Z, мм 16
Детектор вторичных электронов Эверхарта-Торнли Нет
ИК-камера для наблюдения положения образца в камере Есть
Навигационная камера высокого разрешения Есть
Интегрированная система измерения тока луча Есть
Детектор вторичных электронов для низкого вакуума (LVD) Нет
Внутрилинзовый детектор вторичных электронов Есть
Внутрилинзовый детектор обратно-отраженных электронов Нет
Детектор обратно-отраженных электронов (BSED) Есть
Детектор прошедших электронов (STEM) Нет
Детектор для катодолюминесценции (CL) Нет
Детектор Raman Нет
ЭДС Нет
ДОРЭ Нет
ВДС Нет
Высокий вакуум, Па
Низкий вакуум, Па Нет
Безмасляная вакуумная система Есть
Литография Нет
Крио-СЭМ Нет
Манипулятор Нет
Зондовые станции Нет
Панель управления микроскопом Опция
Трекбол Опция
Столик для охлаждения Нет
Столик для нагрева Нет
Столик для растяжения/сжатия Нет
Вакуумный шлюз Опция
Функция замедления пучка Есть