Сканирующий электронный микроскоп SM-50Х

СЭМ SM-50Х имеет высокое разрешение (до 0,6 нм), которое сочетается с высоким контрастом изображения благодаря автоэмиссионному катоду типа Шоттки и использованию передовых сверхчувствительных детекторов. Сдвоенная система торможения пучка, включающая высоковольтную туннельную технологию SuperTunnel и тормозящее поле предметного стола, конструкция объектива с низким уровнем аберраций и отсутствием магнитной утечки идеально подходят для получения изображений с высоким разрешением при низком ускоряющем напряжении, в том числе для анализа магнитных образцов.

Оптическая навигация, автоматические функции, хорошо продуманная эргономика, оптимизированные процессы эксплуатации – даже при отсутствии опыта эксплуатации прибора, вы можете быстро приступить к работе и выполнять съемки с максимально высоким разрешением.

Основные преимущества:

• сверхвысокое разрешение (0,6 нм) во вторичных электронах при низких ускоряющих напряжениях;
• электромагнитный комбинированный объектив уменьшает аберрации, значительно улучшает разрешение при низком напряжении и позволяет наблюдать магнитные образцы;
• сдвоенная система торможения пучка гарантирует высокое разрешение при низком напряжении;
• прецизионный эвцентрический пятиосевой рабочий стол с полной моторизацией;
• шлюз для загрузки образов шириной до 208 мм;
• большая рабочая камера;
• навигационная камера уже в базовой комплектации;
• регулируемая диафрагма с магнитным отклонением с шестью отверстиями, автоматическое переключение отверстий диафрагмы, отсутствие необходимости в механической регулировке позволяют быстро переключать ток пучка между аналитическим режимом и режимом высокого разрешения;
• системы автоматизации для качественной визуализации и настройки систем микроскопа.