Сканирующий электронный микроскоп SM-20

ID:
82390
Артикул:
Цена по-запросу
  • Описание
  • Характеристики

SM-20 — микроскоп нового поколения, всегда готовый к работе, подходящий даже для пользователей, мало знакомых с СЭМ. Прибор обеспечивает возможность размещения больших образцов весом до 5 кг и предоставляет доступ ко всей камере, а высокие токи пучка делают данный микроскоп незаменимым инструментом для проведения элементного анализа в любой материаловедческой лаборатории. Прибор прост в использовании и обслуживании. Его конструкция обеспечивает длительное время безотказной работы, а замена катода и настройка колонны и оптики могут быть выполнены пользователем с любым уровнем опыта.

Основные преимущества:

  • доступность даже при ограниченном бюджете;
  • большая рабочая камера;
  • навигационная камера уже в базовой комплектации;
  • системы автоматизации для качественной визуализации и настройки систем микроскопа.
Тип микроскопа Сканирующий
Область применения Материаловедение, Междисциплинарные научные центры, Науки о живом, Образование
Направление деятельности 2D-анализ, Автоматизированный анализ частиц и включений, Биология, Геология, Медицина, Нефтегазовая отрасль, Образование и обучение, Судебная экспертиза
Объекты интереса 101 нм – 100 мкм
Тип катода Термоэмиссионный (вольфрамовый)
Максимальное разрешение, нм 3,0
Диапазон ускоряющего напряжения, В 200-30 000
Максимальный ток зонда, нА 3000
Диапазон увеличений, крат 12 - 1 000 000
Пятиосевой моторизованный Нет
Пятиосевой моторизованный эвцентрический Нет
Двухосевой моторизованный Нет
Трёхосевой моторизованный Есть
Максимальный вес образца, г 500
Максимальный диаметр образца, мм 270
Ход по осям X и Y, мм 125 ? 125
Воспроизводимость по осям X и Y, мкм
Ход по оси Z, мм 50
Поворот, град. Нет
Наклон, град. Нет
Ширина камеры, мм 340
Количество портов для установки дополнительных детекторов, шт. 5
Детектор вторичных электронов Эверхарта-Торнли Есть
ИК-камера для наблюдения положения образца в камере Есть
Навигационная камера высокого разрешения Есть
Интегрированная система измерения тока луча Нет
Детектор вторичных электронов для низкого вакуума (LVD) Нет
Внутрилинзовый детектор вторичных электронов Нет
Внутрилинзовый детектор обратно-отраженных электронов Нет
Детектор обратно-отраженных электронов (BSED) Опция
Детектор прошедших электронов (STEM) Нет
Детектор для катодолюминесценции (CL) Опция
Детектор Raman Опция
ЭДС Опция
ДОРЭ Опция
ВДС Опция
Высокий вакуум, Па
Низкий вакуум, Па 1000
Безмасляная вакуумная система Опция
Литография Нет
Крио-СЭМ Опция
Манипулятор Опция
Зондовые станции Опция
Панель управления микроскопом Опция
Трекбол Опция
Столик для охлаждения Опция
Столик для нагрева Опция
Столик для растяжения/сжатия Опция
Вакуумный шлюз Опция
Функция замедления пучка Нет