Прямой инспекционный микроскоп MX51
Прямой инспекционный микроскоп для контроля электронных компонентов. Данная модель оптимизирована под образцы для микроэлектроники такие, как магнитные головки, полупроводники, печатные платы и т.д. UIS2 оптика позволяет получать высококонтрастные изображения даже сложных для обзора образцов, как, например, LCD-матрицы. Имеется широкий ряд комплектующих для различных задач, в том числе поворотные cтолики, фильтры, осветители, ИК-модули, лазерный модуль автофокусировки и т.д.
Отличительные особенности:
- Общий диапазон увеличений от 12,5х до 1500х
- Большие столы с ходом до 150 мм с вакуумными ручками для удобной навигации, поворотные столики 6”, 8”, 10”, 12”
- Специальная UIS2 оптика для работы с LCD-компонентами
- Интеграция в автоматические системы исследования и загрузки образцов
|
Применение |
Микроэлектроника |
|
Тип микроскопа |
Прямой |
|
Диапазон увеличений |
12,5-2000х |
|
Методы контрастирования |
Светлое поле, темное поле, простая поляризация, ДИК, ИК спектр |
|
Оптическая система |
UIS2 |
|
Осветители |
100Вт галогеновая лампа (стандарт), 100Вт Hg, 75Вт Xe, 50Вт галоидная лампы (опции) |
|
Револьвер объективов |
Механический 6-позиционный для светлого поля/ДИК, |
|
Предметные столики |
коаксиальное управление, ход 4x4” |
|
Возможность моторизации |
да |
Внимание! Технические характеристики могут быть изменены производителем без предварительного уведомления.
