Просвечивающий микроскоп Talos

ID:

15531

Артикул:

Цена по-запросу

Описание
Характеристики

Растровый/просвечивающий электронный микроскоп (S/TEM) мощностью 200 кВ, обеспечивающий быстрое и точное количественное снятие характеристик наноматериалов в нескольких измерениях. Благодаря уникальным инновациям, разработанным для повышения производительности, точности и простоты эксплуатации, микроскоп Talos является идеальным выбором для углублённой научно-исследовательской работы в лабораториях, госструктурах и в сфере технических исследований.

Отличительные особенности:

Лучшие в отрасли оптические показатели: линза объектива постоянной мощности A-TWIN.
Максимальное удобство в использовании: быстрый и простой переход между операциями подходит для многопользовательской эксплуатации.
Сверхстабильная платформа: линза объектива постоянной мощности, предметный столик с пьезоэлектрическим приводом, жёсткий защитный корпус системы и возможность дистанционного управления обеспечивают максимальную стабильность работы прибора.
Камера SmartCam: цифровая камера, работающая по принципу «нашёл и посмотрел», упрощает работу всех приложений и позволяет работать в условиях дневного света.
Полностью интегрированный быстрый детектор: CMOS-камера Ceta 16 Мп обеспечивает широкую зону видимости и высокую скорость считывания (2 кадра/с при разрешении 4K и 18 кадров/с при разрешении 1K).
Полностью дистанционное управление: автоматическая система настройки апертуры в сочетании с камерой Ceta поддерживает функцию полностью дистанционного управления.
Расширенные аналитические возможности: благодаря применению линз A-TWIN микроскоп Talos позволяет расширить аналитические возможности в трёхмерных объёмах посредством EDX- томографии.

Характеристики электронной пушки	Разрешение STEM HAADF: 0,16 нм Информационный предел TEM: 0,12 нм Разрешающая способность TEM по точкам: 0,25 нм Диапазон увеличения STEM: 150×–230M× Диапазон увеличения TEM: 25×–1,50M× Яркость X-FEG: 1,8 x 109 A/см2/стерадиан (при 200 кВ) Суммарный ток пучка: > 50 нA Ток зонда: 0,4 нA в зонде 0,31 нм (при 200 кВ) 1,5 нA в зонде 1,0 нм (при 200 кВ)
Предметный столик	Максимальный дифракционный угол: ± 12˚ Максимальный угол наклона с двойным наклонным держателем: ± 30˚ Максимальный гониометрический угол наклона (предметного столика): ± 90˚
Рабочая камера	Длина камеры: 12–5100 мм
Детекторы	EDS-система Super-X: Симметричная безоконная конструкция с 2 или 4 SDD-детекторами с защитной заслонкой Энергетическое разрешение: Быстрая EDS-съёмка: Пиксельное время выполнения операции понижено до 10 мкс Телесный угол EDX: 0,45/0,9 стерадиан