Настольный сканирующий электронный микроскоп ZEM 15

Настольный сканирующий электронный микроскоп ZEM 15 позволяет проводить анализ образцов с высоким увеличением и разрешением, а также осуществлять сбор данных об их элементном составе.  Компактные размеры и эргономичный дизайн обеспечивают простоту использования, возможность установки СЭМ на обычный стол в любом помещении – как в офисе, так и на производстве. Источник электронов – вольфрамовая нить – позволяет пользователю проводить замену катода микроскопа  самостоятельно.

Основные преимущества:

• разрешение и увеличение соответствуют большинству требований к тестированию образцов с помощью электронной микроскопии;
• базовая модель, позволяющая устанавливать все основные типы детекторов (SE, BSE, EDS);
• компактные размеры, легкая установка и ввод в эксплуатацию, минимальные требования к месту установки;
• простота в эксплуатации, быстрая загрузка и замена образца, а также возможность дооснащения специальными столиками для испытаний;
• низкая стоимость и доступность источника электронов – катода из вольфрамовой нити, замена которого осуществляется пользователем самостоятельно.

Ключевые возможности ZEM 15:

• высокое разрешение - до 2 нм для детализации структур изломов, покрытий и частиц;
• увеличение - до 500 000x с моторизованным столиком для удобной навигации;
• режимы вакуума - высокий вакуум для проводящих образцов, низкий — для непроводящих (биология, полимеры);
• экспресс-анализ - готовность к работе за 60 секунд, результаты за минуты без специальной подготовки;
• EDS-анализ: определение элементного состава материалов;
• простота - интуитивное ПО, работа на столе без отдельной комнаты, замена нити самостоятельно.