Набор эталонов для систем компьютерной радиографии CR PHANTOM

Набор эталонов для проверки систем компьютерной радиографии CR PHANTOM позволяет проверять качество различных характеристик и параметры систем в соответствии со стандартами EN 14784-1, ASTM E 2445.

Содержит все необходимые эталоны и дополнительно два дуплексных эталона. Измерение точек коррекции затенения производится в двух направлениях. Вся требуемая информация оказывается на запоминающей пластине всего за одну экспозицию, не требуется поворачивать CR PHANTOM для получения информации в другом направлении. Такие результаты являются более точными и экономят время.

Набор позволяет проверять все параметры систем компьютерной радиографии, включая базовое пространственное разрешение, нерезкость, контрастность, MTF, дрожание лазерного луча, эффект проскальзывания, эффект затенения. Порядок и периодичность проверки данных характеристик описаны в стандартах ASTM E 2445 и EN 14784-1.