Исследовательский микротомограф nanoVoxel-4000
Систему nanoVoxel-4000 можно оборудовать источником рентгеновского излучения до 300 кВ с микрофокусом, что дает хорошую проникающую способность и высокое разрешение для анализа достаточно крупных изделий. Данная система томографии позволяет выполнять метрологические измерения благодаря термической стабилизации всего корпуса и гранитному основанию, которое минимизирует влияние внешних вибраций.
Основные преимущества:
- возможность проведения метрологических измерений образцов;
- самый низкий предел допускаемой абсолютной погрешности при измерении линейных размеров среди всех систем, представленных на рынке (5 + L / 100 мкм, где L — длина объекта в мм);
- возможность установки рентгеновских трубок с высоким напряжением (от 160 до 300 кВ);
- самая большая область сканирования изделия среди всех микротомографов;
- возможность исследования материалов высокой плотности за счет высокой мощности рентгеновской трубки;
- специализированное ПО для 4D-томографии изделий (динамическое 3D-сканирование с разбивкой по времени для отображения изменений в образце), которое позволяет
- визуализировать процессы сжатия, растяжения, температурных испытаний и движения изделия.
Применение:
- измерение толщины стенок изделий с целью проведения метрологических исследований;
- исследование причин неисправностей и отказов готовых изделий;
- анализ пустот и включений в геологических объектах и изделиях из металлов, сплавов, и композитов;
- контроль целостности и правильности сборки готового изделия на конечном этапе производства и при входном контроле;
- исследование изменений плотности материалов изделий (по поверхности, глубине и т. д. в металлах, стеклах и пр.) после различных процессов термообработки;
- сравнение 3D-сканирования изделия с исходной моделью, созданной в САПР (CAD);
- обратный инжиниринг для создания САПР-модели (CAD-модели) по результатам томографии реального образца;
- моделирование различных испытаний (механических, тепловых, аэродинамических и т. д.) с математической обработкой методом конечных элементов;
- контроль качества сварных и паяных соединений;
- исследование структур геологических образцов для контроля различных фаз, литотипов, коллекторов;
- исследование петрофизических свойств горных пород;
- исследование плотности, пористости, однородности, изотропности и других характеристик геологических образцов.
| Обнаружительная способность, мкм | 0,5 |
|---|---|
| Максимальное пространственное разрешение системы томографии, мкм | 2 |
| Возможность установки рентгеновской трубки с двойной головкой (микрофокус, нанофокус) | Да |
| Максимальное напряжение на рентгеновской трубке, кВ | 160, 190, 225, 240, 300 |
| Размер активной области детектора, мм | 427 ? 427 |
| Разрешение матрицы детектора, пикс. | 3072 ? 3072 |
| Шаг пикселя детектора, мкм | 49,5; 85; 100; 127; 139 |
| Максимальный размер образца, мм (диаметр ? высота) | 600 ? 550 |
| Максимальная масса образца, кг | 25 |
| Соблюдение норм радиационной безопасности при работе с ИИИ | Менее 1 мкЗв/ч на расстоянии 10 см от поверхности томографа |
| Габариты томографа (Д ? Ш ? В), мм | 2770 ? 1440 ? 2040 |
| Вес, кг | 7500 |
| Материал | Бетон, Керамика, Композитные материалы, Металлы, Нефтяной керн, Пластики, Руда |