Электронный микроскоп CorrSight
Обычно исследование образцов в оптическом и электронном микроскопах подразумевает принципиально разные подходы к подготовке образцов. Кроме того, данные, полученные от этих двух методик, бывает достаточно трудно сопоставить. Отслеживание какого-то отдельного элемента бывает очень сложным, а иногда и невыполнимым. FEI предлагает решение, позволяющее эффективно совместить оптическую и электронную микроскопию, позволяя получать комплексные данные благодаря одновременному использованию нескольких методик.
Основные преимущества CorrSight:
- Автоматизация перехода от оптической к электронной микроскопии
- Простота и высокая скорость проведения корреляционных экспериментов
- Более высокий качественный и количественный уровень данных
- Минимальное участие оператора